方案摘要
通过使用SIMS对材料纳米涂层进行三维研究,对涂层每一层的成分和大致厚度进行分析,为涂层功能、涂层研究以及涂层失效分析等提供参考。
文献贡献者
用新型辉光放电质谱仪测定高纯金属——记忆效应研究
U–Pb zircon dating by laser ablation-MC-ICP-MS using a new
meinhard
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