型号: | Omni |
产地: | 美国 |
品牌: | 布鲁克海文 |
评分: |
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90 Plus PALS 纳米/亚微米激光粒度仪
产品系列:
90 Plus 激光粒度仪基于动态光散射原理,是一种准确、快速、便捷的纳米/亚微米粒度分析测试仪器。
动态光散射原理:由于颗粒在悬浮液中的布朗运动,使得光强随时间产生脉动。采用数字相关器技术处理脉冲信号,可以得到颗粒运动的扩散信息, 进而利用Stokes-Einstein方程计算得出颗粒粒径及其分布。
90Plus的设计精华:
1. 强大的数字相关器
TurboCorr数字相关器是世界公认最先进的相关器, 拥有11 4×522个硬件物理通道,相当于超过4×10 个线性通道,采用动态采样时间及动态延迟时间分配技术,支持互相关测量,支持多路信号输入(详见TurboCorr资料,相关曲线如图1所示)。
2. 功率自动可调的固体激光器
35mW大功率固体激光器带有独立的温度与电流控制系统,在保证稳定性的同时有效地提高了信噪比,更加有利于对极小粒度及极稀体系的测量(如图2所示)。由于光束的良好聚焦,不会对被测体系造成热运动影响,同时保证了更小的散射体积。
3. 检测器两种选择
高灵敏度的APD检测器和宽线性范围的PMT检测器根据客户实验要求选择。APD以其高灵敏度适合测量小颗粒的样品体系;PMT检测器以其良好的线性范围适合测量分布较宽的样品体系。
4. 全新Peltier温度控制器
样品池温度控制范围: -5℃~110℃,精度±0.1℃。
5. 自动诊断功能与培训模式
全新模块化设计,可快速完成仪器安装、培训、维护及升级。
6. 双检测角度设计
15°与90°2个散射角度设计,满足不同粒径范围样品的需求。
7. 全新Particle Solution 粒度测量软件
由于颗粒在悬浮液中的布朗运动,使得光强随时间产生脉动。采用数字相关器技术处理脉冲信号,可以得到颗粒运动的扩散信息, 进而利用Stokes-Einstein方程计算得出颗粒粒径及其分布。综合最新最全的粒度分析方法和模型,提供完整的粒度测量和分析解决方案。Windows平台下操作软件,实时监测测试过程,数据以图形或表格的形式给出。配置蛋白质应用程序,提供多种模型推算蛋白质构象、分子量和散射光强。
8. 独特的软件灰尘过滤功能
有效剔除灰尘颗粒对实验数据的影响,方便对比软件过滤前后的数据差异。
9. 突出的数据重复性
自动样品测试和数据分析,克服人为操作误差(如图3示)。
10. 快速测量和分析
大部分测量时间只需要1至2分钟,且适应单峰分布与多峰分布的样品(如图4 所示)。
11. 强大的数据分析功能
可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析(如图5所示)。
12.微流变检测功能(选件)
通过动态光散射和电泳光散射检测弱结构溶液的粘弹性息。
13. GPC在线检测器配置(选件)
90 Plus可作为在线检测器与GPC/SEC连接,并通过SLS、DLS光强和粒径监测聚集过程(见图6所示)。
14. 自动滴定系统(选件)
独立四泵驱动,*控制酸、碱、盐离子和表面活性剂的滴定量。
典型应用:
蛋白质/联合体/DNA/胶束
橡胶、聚合物胶乳、微乳液
脂质体、药物制备
油/水、水/油乳液
油漆、涂料、颜料
油墨、调色剂
化妆品
分子量测量功能
90Plus的分子量测量提供Mark-Houwink-Sakurada( MHS)方程和Debye方法两种测量模式:
1. MHS方程是以动态光散射测得的扩散系数为基础,再根据经验常数计算出高分子的分子量大小,经验公式如下:
D=K*Mα
D是扩散系数
M是重均分子量
K和α是取决于高分子、溶剂和溶液温度的常数
2.Debye方法是以静态光散射瑞利方程为理论基础,通过测量体系在不同浓度下的散射光光强,再绘图计算出高分子的平均分子量。其经典公式如下:
K*c/ΔR=1/MW +2 A2 *c
c是样品浓度;K是Debye常数;
ΔR是溶液和溶剂的瑞利比值;
Mw 是重均分子量;
A 2是第二维里系数;
如右图所示,截距的倒数是重均分子量,斜率是第二维里系数。只使用浓度外推的Debye方法适用范围:高分子半径Rg< 12 nm,包括球形蛋白和小分子量聚合物。
技术指标:
TurboCorr 数字相关器
美国宇航局太空搭载实验的指定数字相关器
全新设计的数字相关器采用了最新的DSP技术,令体积大为缩小。随着功率的大幅降低与USB端口的应用,使得全套系统有了突出的便携性与兼容性,可通过USB接口为计算机控制。
强大的软件功能
TurboCorr数字相关器可与多种软件配合使用,这些软件包括:
表征凝胶/晶体转变的软件Williams-Watts方程。
表征高分子分子量的软件Zimm,Berry与Debye。
用于200SM系统准直的仪器软件。
TurboCorr设计精华
1. 1 1 硬件物理通道:4×522个,相当于超过4×10 线性通道。
2. 通道数动态可调,并使用可变的采样时间、延迟时间分配技术。
3. 内置了微处理器,从而在工作时不会占用计算机的CPU。
4. 支持不同基线选择,支持4个信号输入。
5. 自相关或互相关模式,中速通道与低速通道可以作为独立相关器使用。
6. 与任何其他的相关器比较,TurboCorr不需要任何形式的预置。
技术参数:
Particle Solution 粒度与Zeta电位分析软件
Particle Solution是一款全新的、功能强大的粒度与Zeta电位分析软件包,代表了粒度与Zeta电位分析技术的最新发展。这款软件包整合了4项测量技术:DLS, E LS, PALS和AS E C, 用户可以便捷地在各种技术直接切换使用。Partic le S olution不仅整合了最新的数据分析模型,而且可以同时以不同的颜色和图层加载30个测量数据,方便数据分析和比较。
软件特点:
1. 整合了4项测量技术:DLS,E LS,PALS和ASEC;
2. 更加方便地查找测量数据;
3. 方便快捷的输出测量结果:XLS、P DF或CSV 。
Zeta PALS是目前唯一能够*测量低电泳迁移率体系的Zeta电位分析仪器, 它采用的是真正的硬件PALS(Phase Analysis Light Scattering,相位分析光散射) 技术, 比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高1000倍!PALS技术是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新Zeta电位测量技术。与传统基于频移技术的光散射方法相比,灵敏度可提高1000倍。许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析,这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10-1000倍,传统方法没有足够的分辨率进行测量。ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。
Zeta PALS的设计精华
1.正真的硬件PALS技术:
随着在20世纪90年代对PALS技术研究的成熟,出现了两种商品化的仪器。一种是使用PALS算法的Zeta电位仪, 另一种就是使用真正硬件PALS技术进行测量的ZetaPALS。
仅使用PALS算法的Zeta电位仪需要对样品进行两次测量,用于降低使用毛细管电极所产生的电渗运动的影响。这种方法仅仅是对多普勒频移技术的数据修正,无法真正提高仪器的灵敏度,因此也无法解决困扰Zeta电位测量的低电泳迁移率体系的问题。ZetaPALS是从硬件测量方法入手,从信号提取方法、信号整形技术以及分析处理等各个阶段都是使用的硬件PALS技术,因此ZetaPALS是真正意义上使用PALS技术的仪器。
2.开放式样品台设计:
开放式样品池设计,无电渗运动产生,可彻底清洁重复使用,亦无交叉污染之忧。传统毛细管样品池电极设计,因其样品池带电而产生反电泳运动的电渗运动。为了降低电渗运动的影响,不得不对多普勒频移技术数据进行算法修正,因此难以保证测量精度。
3. 永久型插入式电极:
1.纯钯极板材料,可重复使用;
2.开放式设计,电极可快速彻底清洁,避免交叉污染;
3.低电压设计(极板距离短,施加低电压即可得到高电场强度),减少了测量过程中使用高电压所产生的高电流对交替样品的污染。
4.全新Peltier温度控制器
样品池温度控制范围:-5℃~110℃,精度±0.1℃
5.自动诊断功能与培训模式
全新模块化设计,可快速完成仪器安装、培训、维护及升级。
6.全新Particle Solution粒度及Zeta电位测量软件
综合最新的Zeta电位分析方法和模型,提供完整的Zeta电位测量和分析解决方案。Windows平下操作软件,实时监测测试过程,数据以图形或表格的形式给出,可自动研究Zeta电位随时间、湿度以及其他参数变化的趋势分析。
7.检测器两种选择
高灵敏度的APD检测器和宽线性范围的PMT检测器根据客户实验要求选择。
8.pH测量功能
配置pH电极,方便用户在测量过程中对样品进行pH测量和调节。
9.自动滴定系统(选件)
独立四泵驱动,*控制酸、碱、盐离子和表面活性剂的滴定量。
BI-ZTU 自动滴定仪
自动滴定仪作为Zeta及粒度分析仪的选件,配合流动型样品池使用,可自动进行酸、碱、盐离子和表面活性剂滴定已经Zeta电位与粒度测量,免去人工配制不同pH值、离子浓度或表面活性剂浓度的麻烦,降低实验工作强度的同时缩短了测量时间。
BI-ZTU应用
1. 通过酸、碱试剂的滴定来测定等电点。
2. 评估盐浓度对Zeta电位的影响。
3. 优化表面活性剂的浓度,减少表面活性剂的消耗。
4. 优化体系的分散条件。
BI-870 介电常数测定仪
*的介电常数值对于Zeta电位测量与计算是非常重要的。全新的BI-870介电常数测定仪不仅操作简单,更为Zeta的测量提供了可靠的参数保证。
技术参数
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