布鲁克扫描电镜专用原位纳米力学系统PI 89
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布鲁克扫描电镜专用原位纳米力学系统PI 89

报价：面议
型号： PI 89
产地： 美国
品牌： 布鲁克
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布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)
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核心参数
产品详情
简介
Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter 是一款集成在扫描电子显微镜（SEM、FIB/SEM）中的纳米力学测试设备，采用电容传感技术和专利xR传感技术，提供广泛的力和位移量程。该系统具备多种测试功能，如电特性测试、薄膜和纳米线压转拉测试、直接拉伸测试、疲劳测试、旋转和倾斜台以及高温测试和纳米划痕等，是目前最先进的多功能原位纳米力学测试仪之一。

Hysitron Pl 89 SEM Picolndenter 利用扫描电子显微镜 (SEM、FIB/SEM)的卓越成像能力,可以在成像的同时进行定量纳米力学测试。这套全新系统搭载Bruker的电容传感技术，继承了早期商业化原位SEM纳米力学平台的优良功能。多年来,Hysitron系列产品稳步拓展PicoIndenter的应用范围，并利用专利xR传感技术和其他先进技术扩展了力和位移量程。PI89拥有多项创新功能，包括电特性模块(ECM)、薄膜和纳米线压转拉模块(PTP)、直接拉伸测试、疲劳测试、旋转和倾斜台(已获专利)、高温测试及纳米划痕等。PI89是现有的用于SEM和 FIB/SEM 的多功能原位纳米力学测试仪。

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售后服务
  • 产品货期： 180天
  • 培训服务： 安装调试现场免费培训
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