型号: | PI 89 |
产地: | 美国 |
品牌: | 布鲁克 |
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Hysitron Pl 89 SEM Picolndenter 利用扫描电子显微镜 (SEM、FIB/SEM)的卓越成像能力,可以在成像的同时进行定量纳米力学测试。这套全新系统搭载Bruker的电容传感技术,继承了早期商业化原位SEM纳米力学平台的优良功能。多年来,Hysitron系列产品稳步拓展PicoIndenter的应用范围,并利用专利xR传感技术和其他先进技术扩展了力和位移量程。PI89拥有多项创新功能,包括电特性模块(ECM)、薄膜和纳米线压转拉模块(PTP)、直接拉伸测试、疲劳测试、旋转和倾斜台(已获专利)、高温测试及纳米划痕等。PI89是现有的用于SEM和 FIB/SEM 的多功能原位纳米力学测试仪。
双焦面实时超高分辨系统Bruker3DVutura
多功能双光子成像平台Bruker2pplus
高品质双光子成像系统BrukerInvestigator
场扫描共聚焦成像系统BrukerOpterra II
布鲁克透射电镜专用原位纳米力学系统PI 95
布鲁克电镜专用原位纳米力学测试系统PI 88
布鲁克电镜专用原位纳米力学系统 PI 85L
布鲁克高精度纳米力学测试系统TI Premier
布鲁克高精度纳米力学测试系统TI 980
布鲁克三维光学显微镜Contour Elite
摩擦磨损试验机UMT-TriboLab
布鲁克原子力显微镜Dimension FastScan
探针式表面轮廓仪DektakXT
光学轮廓仪NPFLEX 3D
扫描探针显微镜系统Dimension Edge
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