型号: | TESCAN MIRA (AMU) 特大样品室定制版 |
产地: | 捷克 |
品牌: | 泰思肯 |
评分: |
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应用领域: |
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TESCAN MIRA 场发射扫描电镜给用户带来了最新的技术优点(如改进的高性能电子设备使成像过程更快,快速扫描系统包括了动态与静态图像扭曲补偿,有内置的编程软件等),同时保持着最高的性价比。
MIRA 的设计适用于各种各样的SEM应用及当今研究和产业的需求。大电子束流下的高分辨率有利于分析应用,例如:EBSD、WDX等分析。
高亮度肖特基电子枪可获得高分辨率/高电流/低噪音图像
独特的三透镜大视野观察(Wide Field Optics™)设计提供了多种工作与显示模式
独特的中间镜的作用就如同软件“光阑转换器”,它以电磁方式有效地改变物镜光阑
结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪(In-Flight Beam Tracing™),可模拟和优化电子束
可选的In-Beam探头可获得特高分辨率图像
电镜的全自动设置
成像速度快
使用3维电子束技术,实时得到立体图像,三维导航
现在保持电镜处在优秀的状态很简单,只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细,使得仪器的效率最大化,操作最简化。
设备的特点包括了自动设置和众多自动操作。除此之外,电镜还有样品台自动导航与自动分析 程序,能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言(Python)可进入软件的大多数功能,包括显微镜的控制、样品台的控制、图像采集、处理与分析。通过脚本语言用户还可以编程其自己的自动操作程序。
多语言操作界面
多用户界面(包括了EasySEMTM模式)不同账户的权利使常规分析过程更快
图片管理,报告生成
内置的系统检查与系统诊断
网络操作与远程进入/诊断
模块化软件体系结构
标准软件包括了测量、图像处理、对象区域,等模块
可选的软件和包括颗粒度分析标准版/专家版、3维表面重建,等模块
MIRA AMU
特大样品室定制版
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