TESCAN FERA3氙等离子超高速双束FIB系统近日在安靠封装测试(上海)有限公司顺利完成安装!FERA3是世界上首台完全集成的Xe等离子源FIB和SEM的双束聚焦扫描电镜,离子束流高达2μA,其溅射速率相比传统的Ga离子源高达50倍以上。因此,FERA3非常适合于大尺寸材料去除的应用,特别是应用于TSV的半导体封装技术。
安装在Amkor的TESCAN FERA3
Amkor Technology是全球半导体封装和测试外包服务业中最大的独立供应商之一,成立于1968 年,公司总部、研发中心、产品及市场部位于美国利桑那州的钱德勒。经过40 多年的发展,已成为当今世界上半导体主要供应商的重要合作伙伴,为半导体行业的发展持续提供包装、服务和技术支持服务。
安靠封装测试(上海)有限公司是Amkor Technology的直属子公司。安靠封装测试(上海)有限公司成立于2001 年,截止到2014 年,投资总额达6.45 亿美元,注册资本达2.15亿美元。如今,安靠上海已拥有包括封装、测试、凸块和指定交运在内的全套解决方案,测试能力包括逻辑测试、混合信号测试和存储器测试等。
安靠封装测试(上海)有限公司
在半导体应用中,需要对大面积的样品进行剖析,但Ga等离子源FIB系统加工速度过慢,即使是在几十微米级别的加工尺度上,加工时间依然是按小时计算。而TESCAN首创的氙等离子超高速双束FIB系统可将加工速度提升50-60倍;对于百微米量级的加工,也可以实现按分钟计算,这大大提高了半导体行业用户的分析效率,帮助用户节约了时间成本。
同样,在材料科学领域,利用氙等离子双束FIB技术,可以轻松提高加工速度。例如,钢铁样品的EBSD三维重构,FERA3首次实现了FIB加工速度快于EBSD分析速度。此外,在生命科学领域中,氙等离子FIB技术也扩展了生物组织三维重构的应用。
TESCAN FERA3氙等离子超高速双束FIB系统
TESCAN 的售后工程师对仪器进行了系统的安装和测试,同时,也完成了基本操作培训,目前设备已正式投入使用。Amkor是TESCAN FERA3氙等离子超高速双束FIB系统的第一个用户,也是国内第一个使用FERA3氙等离子超高速FIB技术的用户。此次FERA3的顺利安装对于双方都有重要意义,后续我们将进一步提升应用和技术支持,和Amkor公司通力合作,助力半导体行业的发展。
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