2017年12月19日,“2017年度北京市电子显微学年会”在北京天文馆4D科普剧场召开,本次会议由北京市电镜学会、北京理化分析测试技术学会承办,旨在推动北京及周边地区电子显微学学术水平的发展,促进电子显微学从业者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流,会议吸引了100多名电子显微学领域专家学者们参加。
作为全球电子显微镜及聚焦离子束领域的技术领导者和创新者,TESCAN应邀出席此次年会,介绍了TESCAN在电镜技术领域的最新技术进展。
2017年度北京市电子显微学年会会场
目前电子显微镜的发展方向主要是在:高分辨能力、原位观测能力和分析能力三个方面。TESCAN作为全球知名的电镜显微分析仪器的制造商,提出了“All in one 综合显微分析平台”的理念,给出了完善的解决方案。
TESCAN中国市场部经理顾群精彩分享
在此次学术年会上,TESCAN中国市场部经理顾群带来了题目为“TESCAN微分析综合解决方案—电镜-共聚焦拉曼一体化系统”的精彩报告,向参会人员介绍了TESCAN近年来在显微领域的技术突破和创新,并重点分享了TESCAN首创的扫描电镜-拉曼光谱(SEM-RAMAN)一体化技术的最新应用案例。
TESCAN ‘All in one’综合显微分析平台
感谢电镜学会提供这样的平台和机会,也感谢各位老师一直以来对于TESCAN产品和服务的支持,我们会继续努力,创新和探索更多前沿应用,提供更优秀的产品和服务!日前,TESCAN RISE电镜拉曼一体化系统已成功安装于国家核安保中心,欢迎各位老师前来交流咨询。
国家核安保中心TESCAN RISE电镜-拉曼一体化系统
直播提醒 | 今日 15:00 探索 TESCAN 双束电镜新增的纳米原型设计能力
视频见证 扫描透射电镜-带轴对中全自动化
应用案例 | 显微CT成像揭示人类早期发育之秘
会议邀请 | 相约武大,参与TESCAN电镜联用及多尺度显微成像技术研讨
相关产品
TESCAN AMBER X 高分辨氙离子源双束扫描电镜
TESCAN SOLARIS X 氙等离子源双束FIB系统
TESCAN 高分辨率三维 X 射线显微镜
TESCAN 多分辨率 3D X射线显微成像系统
TESCAN 四维 X 射线显微镜
TESCAN AMBER 镓离子型双束扫描电镜
TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电镜
TESCAN 集成矿物分析仪系统
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
TESCAN MAGNA 新一代超高分辨场发射扫描电镜
TESCAN MIRA 场发射定制版扫描电镜(AMU)
TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨镓离子FIB-SEM
TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜
集成矿物分析仪 TIMA-X FEG(LM)
TESCAN VEGA COMPACT 钨灯丝扫描电镜
关注
拨打电话
留言咨询