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新品发布
TESCAN AMBER X 2
邀您参加线上发布会
为了展示 AMBER X 2 的能力，TESCAN 将与 Wiley Analytical Science 合作举办一系列信息丰富的网络研讨会。这些在线活动将全面介绍 TESCAN AMBER X 2 如何增强您的研究和开发工作流程。
8月20日第一场已结束。TESCAN 提醒你参加第二场发布会直播，深入了解增强性能：
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第二场 8月22日
《重新定义 FIB-SEM ！在 3D 多模态表征中体验 AMBER X 2 的速度、精度和实用性》
内容预告：3D 多模态表征艺术
速度和精度：AMBER X 2 如何平衡数据质量和体积。
优化 FIB-SEM 断层扫描：快速分析策略，将伪影降到最低。
实际应用：AMBER X 2 在研究各种材料中的用途。
演讲人：TESCAN 产品经理 Tomáš Šamořil，拥有物理和材料工程博士学位，并作为应用专家拥有丰富的经验。
温馨提示：
注册时建议选择 欧洲时间 9:00am - 10:00am 档，对应中国时间 3:00pm - 4:00pm 档。
此系列报告将有中文字幕，发布会问答环节有中方人员支持中文解答。
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第三场 9月3日
《新一代人工智能 TEM 制样自动化技术：有了 AMBER 2 和 AMBER X 2，样品制备真快！真方便！》
内容预告：
高通量 TEM 制备：AMBER 2 和 AMBER X 2 如何满足高通量、一致的样品制备需求。
自动化工作流程：AMBER X 2 中的 TEM AutoPrep Pro™。
精确的薄片几何形状：AMBER X 2 中 OptiLift™ 纳米操纵器的能力。
演讲人：TESCAN 产品经理 Martin Sláma，拥有超过 8 年的 FIB-SEM 3D 表征和材料科学 TEM 薄片准备经验。
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第四场 9月5日
《 TESCAN AMBER 2 纳米原型设计好用又精细：为您打开快速开发新型设备的大门》
内容预告：
简化的工作流程：AMBER 2 的设计如何最小化停机时间并最大化效率。
多功能样品制备：AMBER 2 用于各种纳米原型设计任务的能力。
全面分析：AMBER 2 的 UHR 成像能力的洞察。
演讲人：TESCAN 纳米原型设计产品经理 Milos Hrabovsky，专注于电子和离子束图案化、沉积、增强蚀刻和通过脚本实现显微镜自动化。
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线下发布会
● 8月26日@EMC会议TESCAN展台（B9），预约真机体验 AMBER X 2 | |
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