方案摘要
方案下载应用领域 | 地矿 |
检测样本 | 金属矿产 |
检测项目 | |
参考标准 | 无 |
在传统的电镜中,由于EDS的检出限为0.1%,所以对于一些微量元素的分析来说较为困难。尤其是要做微量元素或者差异很小的面分布来说,EDS往往不能满足我们的需要。虽然拉曼光谱并不能直接得到元素含量和分布分析,但是有时候微量元素的变化足以引起对应的特征拉曼峰的变化。此时便可利用拉曼光谱去进行微量元素的分析。
如下图,为某矿物试样。Nd元素含量较低,EDS无法通过Mapping将其分布准确的显示。如果要点扫描,虽然单点数据可以比mapping更准确的测出Nd的含量,但是无法得到分布。如果要仔细分析,需要用户选择很多个测试点进行分析。但是这样得到的数据工作效率很低,数据整理困难,且准确性也难以评价。
而在RISE下则可以先进行拉曼面扫描,发现Nd元素对应的特征峰的积分强度随元素含量而有变化。元素Nd含量偏高的区域的拉曼光谱和红色接近,含量偏低的和蓝色谱图接近,所以根据谱图拟合后得到了根据Nd元素含量而得到的RISE图像。很快的可以找到Nd元素含量偏高或偏低的区域。
石灰岩酸性环境下的腐蚀反应和实时动态变化过程
TESCAN电镜应用之医学组织细胞的颗粒度分析
TESCAN电镜应用之晶相样品的颗粒度分析
相关产品
TESCAN AMBER X 高分辨氙离子源双束扫描电镜
TESCAN SOLARIS X 氙等离子源双束FIB系统
TESCAN 高分辨率三维 X 射线显微镜
TESCAN 多分辨率 3D X射线显微成像系统
TESCAN 四维 X 射线显微镜
TESCAN AMBER 镓离子型双束扫描电镜
TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电镜
TESCAN 集成矿物分析仪系统
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
TESCAN MAGNA 新一代超高分辨场发射扫描电镜
TESCAN MIRA 场发射定制版扫描电镜(AMU)
TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨镓离子FIB-SEM
TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜
集成矿物分析仪 TIMA-X FEG(LM)
TESCAN VEGA COMPACT 钨灯丝扫描电镜
关注
拨打电话
留言咨询