型号: | MProbe RT |
产地: | 德国 |
品牌: | Semiconsoft |
评分: |
|
产品概述
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
该机大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
测量范围: 1 nm -20um(UVVis),1nm-150um(UVVisNIR)
波长范围: 200 nm -1000 nm(UVVis)
200nm-1700nm(UVVisNIR)
适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等;
蓝宝石基底上1025nm厚度的氧化物薄膜的反射率和透射率,波长范围(200-1700nm):
相关产品
布鲁克Bruker 手持光谱仪 X荧光光谱仪 S1 TITAN 合金矿石土壤元素分析仪
布鲁克/超轻便型直读光谱仪 Q2 ION
布鲁克S2 PICOFOX全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
Dektak XT台阶仪-表面轮廓仪
工业CT通用检测系统XRH222
布鲁克 艺术与考古分析仪Tracer
布鲁克Bruker 微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
能量色散型X荧光光谱仪M4 TORNADO
布鲁克 能量色散X射线荧光光谱仪 ELIO ELIO
科研手持XRF光谱仪 TRACER 5g/手持光谱仪
布鲁克 光学轮廓仪ContourGT-X
DANTE数字脉冲处理器
Bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL
布鲁克 手持式矿石分析仪S1 TITAN
布鲁克Bruker 微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO PLUS
关注
拨打电话
留言咨询