反射膜厚仪MProbe RT

反射膜厚仪MProbe RT

参考价:面议
型号: MProbe RT
产地: 德国
品牌: Semiconsoft
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产品概述

       大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)

        该机大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)

测量范围: 1 nm -20um(UVVis),1nm-150um(UVVisNIR)

波长范围: 200 nm -1000 nm(UVVis)

200nm-1700nm(UVVisNIR)

适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等;

蓝宝石基底上1025nm厚度的氧化物薄膜的反射率和透射率,波长范围(200-1700nm):

 

铂悦仪器(上海)有限公司为您提供Semiconsoft反射膜厚仪MProbe RT,SemiconsoftMProbe RT产地为德国,属于进口在线测厚仪,除了反射膜厚仪MProbe RT的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供MProbe NIR薄膜测厚仪,铂悦仪器客服电话400-801-8356,售前、售后均可联系。

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