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Litesizer DLS 系列是安东帕公司的动态光散射粒度/Zeta 电位分析仪产品,用于表征从纳米到微米粒子的粒度、粒度分布、Zeta 电位、分子量、粒子浓度、透光率等特性,具有适用浓度范围宽、一键操作完成测试、功能全面等优点。在 Litesizer DLS 100 和Litesizer DLS 500 取得了优秀销售和应用成绩的基础上,安东帕推出了功能更为强大的Litesizer DLS 700。
Litesizer DLS 700
安东帕 Litesizer DLS 700
动态光散射粒度分析仪
携全新复杂基质测试方案登场:
MAPS系统:复杂样品的简单方案
PCON系统:样品中不同颗粒浓度及总浓度的直观表达
MAPS多角度联合测试
简单的单峰样品测试已无法满足日益多样的测试需求,Litesizer DLS 700 正式推出多峰样品的最佳测试方案:
MAPS 系统拥有更高的分辨率,解决复杂样品的粒径问题;更准确的粒径分布结果;更优秀的分离度,粒径比例大于1:2 即能准确分辨。
不同角度分管样品中不同大小颗粒的结果,将其连立计算,即可获得,不同大小颗粒的准确结果。
实验分析
NIST 标准物质:
已知粒径分别为150nm和300nm(粒径大小比值为1:2),将两者混合,混合比为3:1
用背散射角测量/MAPS 测量
使用Maps进行三角度测量
背散射角度测试显示单峰
背散射测量只显示一个峰值无法将其分为双峰,MAPS 结果,准确的解出了两个峰值。
Litesizer DLS 700 测试显示双峰
PCON颗粒浓度测试
借助 PCON 系统强大的功能,现在您可以更了解样品中颗粒的浓度。Litesizer 700 不单单提供样品中颗粒的总浓度,通过 MAPS 对样品进行解析,还可以确定不同大小颗粒各自的浓度。
结果显示:峰大小、相应浓度、总浓度
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