资料摘要
资料下载光纤耦合输出的高功率半导体激光器可应用于微加工、聚合物粘合、切割及烧结。采用半导体激光器进行金属/陶瓷的熔融烧结可以用于许多复杂、精密零件的快速制造,以取代目前的蜡/塑料模型工艺。对千瓦级的功率需求,DPSSL可满足多数大型工件的工业焊接。直接采用高峰值功率的准连续半导体激光器及适当的光束整形技术可获得105 Wcm-2的功率密度,能够应用于金属表面的熔融整平。
VENTEON PULSE ONE
简介:Venteon <8 fs 超快雷射震荡器 德国Venteon 专门从事于生产高质量光学镀膜,使其能符合不管是工业界或学术界非常严格的要求,因自身的设计能力,使其能设计一系列高规格镜片,如Edge Filter、Bandpass Filter、GVD-Mirror、非线性晶体和高功率雷射镜片等。 此外,提供各式超短脉冲激光(<8fs),作为高阶激光领域之研究.
VENTEON PULSE FOUR (SPIDER)_v2.2
简介:Venteon <8 fs 超快雷射震荡器 德国Venteon 专门从事于生产高质量光学镀膜,使其能符合不管是工业界或学术界非常严格的要求,因自身的设计能力,使其能设计一系列高规格镜片,如Edge Filter、Bandpass Filter、GVD-Mirror、非线性晶体和高功率雷射镜片等。 此外,提供各式超短脉冲激光(<8fs),作为高阶激光领域之研究.
fox_vcsel_data_sheet
简介:AEHR 老化测试系统 1. 老化测试系统ABTS-L 1) 高可靠性老化测试系统 2) 可作环境测试的同时进行Functional Test 3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots 4) 1个Driver Board对应一个Zone 5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计 6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换 7) 有High power类应用配置 8) 可客制化配置 9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB! 2. 老化测试系统ABTS-Mini 配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合 例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots 3. 老化测试系统ABTS-Double Mini 配置同ABTS-Mini 为两台MINI叠加 有2个温度区,应用于多温度需求 标准12slots,可Up to 24slots.
FOX-15 revBFP Datasheet
简介:AEHR 老化测试系统 1. 老化测试系统ABTS-L 1) 高可靠性老化测试系统 2) 可作环境测试的同时进行Functional Test 3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots 4) 1个Driver Board对应一个Zone 5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计 6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换 7) 有High power类应用配置 8) 可客制化配置 9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB! 2. 老化测试系统ABTS-Mini 配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合 例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots 3. 老化测试系统ABTS-Double Mini 配置同ABTS-Mini 为两台MINI叠加 有2个温度区,应用于多温度需求 标准12slots,可Up to 24slots.
FOX-1 revCFP
简介:AEHR 老化测试系统 1. 老化测试系统ABTS-L 1) 高可靠性老化测试系统 2) 可作环境测试的同时进行Functional Test 3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots 4) 1个Driver Board对应一个Zone 5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计 6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换 7) 有High power类应用配置 8) 可客制化配置 9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB! 2. 老化测试系统ABTS-Mini 配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合 例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots 3. 老化测试系统ABTS-Double Mini 配置同ABTS-Mini 为两台MINI叠加 有2个温度区,应用于多温度需求 标准12slots,可Up to 24slots.
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