资料摘要
资料下载最大能扩容到500ml的， 对应于生产用途的中型通用机型 从小型机的扩容为目的的中型通用机型。该机型是针对包括生产在内的使用频率较高的现场而开发出来的。它采用了高耐久性的驱动系统，通过将旋转半径的增大效果和自公转比率调节到最佳，从而达到提高搅拌性能的设计，在脱气泡能力上也与小型机型相同。氨基甲酸酯树脂的搅拌?脱气泡和投入悬浊液的均匀搅拌、铝浆调制等、在需要一定程度批处理量的用途上以及均匀分散性存在问题的材料处理中，该机型的使用正在增加。 特长对应于小型机的扩容用途 带有高耐久性驱动系统，能对应于生产现场。 对于最大500ml?1.1kg的材料，能同时进行搅拌?脱气泡处理。 对应于不同容器的多种多样的接合器种类（针筒、管、一次性容器等） 利用保冷、耐热接合器，对应于大多数的材料特性。 带有能够控制运行条件的记忆功能和阶段运行功能。 ■主机外形尺寸／H692×W500×D500（mm） ■主机重量／约95kg ■最大处理量／使用550ml容器时：500ml?1.0kg（净重）500ml?1.1kg（毛重）
文献贡献者
VENTEON PULSE ONE
简介：Venteon <8 fs 超快雷射震荡器 德国Venteon 专门从事于生产高质量光学镀膜，使其能符合不管是工业界或学术界非常严格的要求，因自身的设计能力，使其能设计一系列高规格镜片，如Edge Filter、Bandpass Filter、GVD-Mirror、非线性晶体和高功率雷射镜片等。 此外,提供各式超短脉冲激光(<8fs),作为高阶激光领域之研究.
VENTEON PULSE FOUR (SPIDER)_v2.2
简介：Venteon <8 fs 超快雷射震荡器 德国Venteon 专门从事于生产高质量光学镀膜，使其能符合不管是工业界或学术界非常严格的要求，因自身的设计能力，使其能设计一系列高规格镜片，如Edge Filter、Bandpass Filter、GVD-Mirror、非线性晶体和高功率雷射镜片等。 此外,提供各式超短脉冲激光(<8fs),作为高阶激光领域之研究.
fox_vcsel_data_sheet
简介：AEHR 老化测试系统 1. 老化测试系统ABTS-L 1) 高可靠性老化测试系统 2) 可作环境测试的同时进行Functional Test 3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots 4) 1个Driver Board对应一个Zone 5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计 6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换 7) 有High power类应用配置 8) 可客制化配置 9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB! 2. 老化测试系统ABTS-Mini 配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合 例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots 3. 老化测试系统ABTS-Double Mini 配置同ABTS-Mini 为两台MINI叠加 有2个温度区,应用于多温度需求 标准12slots,可Up to 24slots.
FOX-15 revBFP Datasheet
简介：AEHR 老化测试系统 1. 老化测试系统ABTS-L 1) 高可靠性老化测试系统 2) 可作环境测试的同时进行Functional Test 3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots 4) 1个Driver Board对应一个Zone 5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计 6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换 7) 有High power类应用配置 8) 可客制化配置 9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB! 2. 老化测试系统ABTS-Mini 配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合 例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots 3. 老化测试系统ABTS-Double Mini 配置同ABTS-Mini 为两台MINI叠加 有2个温度区,应用于多温度需求 标准12slots,可Up to 24slots.
FOX-1 revCFP
简介：AEHR 老化测试系统 1. 老化测试系统ABTS-L 1) 高可靠性老化测试系统 2) 可作环境测试的同时进行Functional Test 3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots 4) 1个Driver Board对应一个Zone 5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计 6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换 7) 有High power类应用配置 8) 可客制化配置 9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB! 2. 老化测试系统ABTS-Mini 配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合 例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots 3. 老化测试系统ABTS-Double Mini 配置同ABTS-Mini 为两台MINI叠加 有2个温度区,应用于多温度需求 标准12slots,可Up to 24slots.
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