资料摘要
资料下载We present a quantitative study on the fabrication of microlenses using a low-cost polymer dispending technique. Our method is based on the use of a silicon micro-cantilever robotized spotter system. We first give a detailed description of the technique. In a second part, the fabricated microlenses are fully characterized by means of SEM (Scanning Electron Microscope), AFM (Atomic Force Microscopy) non contact optical profilometry and Mach-Zehnder interferometry. Diameters in the range [25- 130μm] are obtained with an average surface roughness of 2.02nm. Curvature radii, focal lengths as well as aberrations are also measured for the first time: the fabricated microlenses present focal lengths in the range [55-181μm] and exhibit high optical quality only limited by diffraction behaviour with RMS aberration lower than λ/14.
文献贡献者
VENTEON PULSE ONE
简介：Venteon <8 fs 超快雷射震荡器 德国Venteon 专门从事于生产高质量光学镀膜，使其能符合不管是工业界或学术界非常严格的要求，因自身的设计能力，使其能设计一系列高规格镜片，如Edge Filter、Bandpass Filter、GVD-Mirror、非线性晶体和高功率雷射镜片等。 此外,提供各式超短脉冲激光(<8fs),作为高阶激光领域之研究.
VENTEON PULSE FOUR (SPIDER)_v2.2
简介：Venteon <8 fs 超快雷射震荡器 德国Venteon 专门从事于生产高质量光学镀膜，使其能符合不管是工业界或学术界非常严格的要求，因自身的设计能力，使其能设计一系列高规格镜片，如Edge Filter、Bandpass Filter、GVD-Mirror、非线性晶体和高功率雷射镜片等。 此外,提供各式超短脉冲激光(<8fs),作为高阶激光领域之研究.
fox_vcsel_data_sheet
简介：AEHR 老化测试系统 1. 老化测试系统ABTS-L 1) 高可靠性老化测试系统 2) 可作环境测试的同时进行Functional Test 3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots 4) 1个Driver Board对应一个Zone 5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计 6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换 7) 有High power类应用配置 8) 可客制化配置 9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB! 2. 老化测试系统ABTS-Mini 配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合 例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots 3. 老化测试系统ABTS-Double Mini 配置同ABTS-Mini 为两台MINI叠加 有2个温度区,应用于多温度需求 标准12slots,可Up to 24slots.
FOX-15 revBFP Datasheet
简介：AEHR 老化测试系统 1. 老化测试系统ABTS-L 1) 高可靠性老化测试系统 2) 可作环境测试的同时进行Functional Test 3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots 4) 1个Driver Board对应一个Zone 5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计 6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换 7) 有High power类应用配置 8) 可客制化配置 9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB! 2. 老化测试系统ABTS-Mini 配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合 例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots 3. 老化测试系统ABTS-Double Mini 配置同ABTS-Mini 为两台MINI叠加 有2个温度区,应用于多温度需求 标准12slots,可Up to 24slots.
FOX-1 revCFP
简介：AEHR 老化测试系统 1. 老化测试系统ABTS-L 1) 高可靠性老化测试系统 2) 可作环境测试的同时进行Functional Test 3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots 4) 1个Driver Board对应一个Zone 5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计 6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换 7) 有High power类应用配置 8) 可客制化配置 9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB! 2. 老化测试系统ABTS-Mini 配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合 例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots 3. 老化测试系统ABTS-Double Mini 配置同ABTS-Mini 为两台MINI叠加 有2个温度区,应用于多温度需求 标准12slots,可Up to 24slots.
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