Rtec三维白光干涉仪UP-WLI_价格-艾泰克仪器科技（南京）有限公司

产品详情

白光干涉测量系统沿着垂直轴向捕获光强数据，通过白光干涉图的形状，局部相位或者两者结合确定表面位置

Vertical Resolution 垂直分辨率	0.1nm 0.1nm
Turret 转轮	upto 6 objective turret (manual or automatic) 6镜头转轮（自动或手动）
Scan Range 扫描范围	Up to 150mm x 150mm 最高达150mmx150mm
Sample thickness 试样厚度	upto 100mm 最高达100mm
FOV 视场	upto 10mm 最高达10mm
Objectives 物镜	10x,50x 10倍，50倍
Z focussing range Z轴方向聚焦范围	nm to 10mm 0.1nm到10mm
Scanning area 扫描区域	150x150mm 150x150mm
Tilt 倾斜角	+/- 7 degree +/-7度
Rotation (theta) 平台旋转范围	360 Degree 360度
Pixel 像素	Standard 1024 x 1024 标准1024x1024

艾泰克仪器科技（南京）有限公司为您提供Rtec三维白光干涉仪UP-WLI，RtecUP-WLI产地为美国，属于进口白光干涉测厚仪，除了三维白光干涉仪的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多白光干涉测厚仪,艾泰克客服电话400-860-5168转1329，售前、售后均可联系。

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工商信息

信息已认证

企业名称: 艾泰克仪器科技（南京）有限公司
企业类型:
信用代码: 91320100MA1X5H9G0E
成立日期: 2005年12月14日
注册资本: 500
经营范围: 仪器仪表、计算机等电子产品的设计、开发、制造及销售;仪器仪表的测试服务;仪器仪表、机械产品的维修(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)

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