薄膜厚度测量仪
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薄膜厚度测量仪

参考价：¥10万 - 20万
型号： FT-100
产地： 美国
品牌： Rtec
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核心参数
艾泰克仪器科技（南京）有限公司
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                  FT-100 薄膜厚度测量仪


薄膜厚度测量范围 （Thickness Range）: 1 nm - 1.8 mm

波长范围 （Wavelength Range）: 200 nm - 1700 nm

精度 （Precision）: <0.01 nm or 0.01%

稳定性 (Stability): <0.02 nm or 0.03%

光斑大小 （Spot Size）: Depends on objective (4 um to 200 um. 2mm） 

功能： 测量薄膜厚度、光学常数，反射率和透过率

单层膜或多层膜叠加层； 适用于几乎所有透明，半透明，低吸收系数的薄膜测量，包括液态膜或空气层。

测试条件： 平面或曲面

可配XY平台实现全样品膜厚 mapping 


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                   可集成于以上测试平台 （ 三维轮廓仪，微纳米压痕/划痕仪，摩擦磨损仪等）

艾泰克仪器科技（南京）有限公司为您提供Rtec薄膜厚度测量仪FT-100，RtecFT-100产地为美国，属于进口白光干涉测厚仪，除了薄膜厚度测量仪的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多白光干涉测厚仪,艾泰克客服电话400-860-5168转1329，售前、售后均可联系。

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行业应用
典型用户
用户单位 采购时间
苏州实验室 2023/09/18

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