| 型号： | UP |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | Rtec |
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特点：一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜
白光干涉
白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描，对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。
最好的技术来实现高Z向分辨率
白光干涉法和相移两种模式实现Z方向的高分辨率。
快速图像处理系统达到400万像素
四色LED相机
更大的垂直测量范围达10毫米
150 mmx150mm马达控制平台。
样品粗糙度，粗糙表面高度抛光后的光洁度以及表面结构测量，如陶瓷、塑料和辊钢。
SPIP专业数据分析软件
原子力显微镜
探针式轮廓测量能够进行材料在纳米尺度水平的测试。提供扫描范围70 x70um，探针更换简单。
最好的技术来实现Z和XY方向上的高分辨率
X,Y和Z方向上纳米级的分辨率和精度。
线性XY压电陶瓷扫描
包括振动和不振动的模式
可选的侧向力和相位模成像
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