方案摘要
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全反射X荧光（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，于1971年Yoneda等首先提出的，西德Rich Seifer公司于1981年首先研制成功了第一台实用的商业全反射X射线荧光分析仪，现在TXRF已成为一门成熟的通常可接受的分析技术，广泛用于痕量元素分析、微量样品分析、表面和表层分析、地质样品分析等领域。它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL级以下）、 用样量少（μL、ng级）、准确度高（可用内标法）、操作简便、快速，而且可进行无损分析，成为一种不可替代的全新的元素分析方法。
文献贡献者
介绍射线用晶体CdTe
X射线衍射仪(XRD)相关术语解释
样品卡与标准卡对比原则？
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