仪器简介:CMI900射線螢光鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產力,高再現性等優點,在品質管制到不良品分析有著廣泛的應用。用於電子元器件,半導體,PCB,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器等多個行業。
技术参数:元素範圍 鈦(Ti22) ~ 鈾(U92)
X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統,50W(4-50kV,0-1.0mA)(可選75W)
靶材 標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
濾光片 二次X射線濾光片:3個位置程式控制交換,多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
准直器程式控制交換系統 最多可同時裝配6種規格的准直器。圓形,如4、6、8、12、20 mil等矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)。在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
樣品室 開槽式樣品室,610mm x 610mm
XY軸程式控制移動範圍 標準:152.4 x 177.8mm 還有5種規格任選
Z軸程式控制移動高度 43.18mm
XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程式控制、XY軸手動控制和Z軸程式控制、XYZ三軸手動控制
樣品觀察系統 高分辨彩色CCD觀察系統標配30倍,鐳射自動對焦功能,可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
測厚範圍 取決於您具體應用來配置
主要特点:1. 精度高、穩定性好
通過溫度補償跟光譜教正提高測試穩定性,溫度補償:通過檢測系統溫度,消除溫度變化可能帶來的溫度影響。光譜校正:檢測系統性能,自動校準系統偏差。
經驗值校準,國際校正的標準塊,確保結果的可塑性。美國國家實驗室(A2LA)核准實驗室,保證系統的完整性。
2. 強大的資料統計、處理功能
平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、資料變動範圍、資料編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
資料分組、X-bar/R圖表、直方圖,資料庫存儲功能及任選軟體:統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
3. 測量範圍寬
可檢測元素範圍:Ti22 – U92,可同時測定5層/15種元素/共存元素校正,液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量。多達4個樣品的光譜同時顯示和比較。
4. 測量自動化功能
多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重複測量模式
測量位置預覽功能及鐳射對焦和自動對焦功能
5. 多圖顯示模式
可设定测量点并可以连续多点测量,测量位置预览(图表显示)
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