日立FT230台式XRF镀层测厚仪 （SDD检测器）
优选

日立FT230台式XRF镀层测厚仪 （SDD检测器）

参考价：¥50万 - 100万
型号： FT230
产地： 上海
品牌： 日立
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核心参数
创新点
FT230具备新面世的智能零件识别功能Find My Part™（查找我的样品），用户可自动选择需要测量的部件、分析程序和报告规则，从而使FT230的用户体验（UX）得到极大改善，因此操作员在使用XRF设备方面耗时更少，而将更多时间用于处理分析结果。 FT230是使用新款FT Connect软件的首款产品，其延续了已有软件SmartLink和X-ray Station的优势，还增加了新的功能，提高了可用性。FT Connect颠覆了传统的界面。将XRF设备的关键部分集中显示在界面上，呈现超大规模的样品视图和清晰的结果，使用户更容易找到部件来进行分析和查看分析结果。 除此以外还具备其他新特性。
日立分析仪器（上海）有限公司
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产品详情

概要：

FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间，因此推出了一个有着突破性的分析仪，其可以有效地 "设置 "自己，使得在过程中可以分析更多的零件。


自动化和创新软件是FT230分析仪的特点。智能识别模块，如Find My Part™（查找我的样品），意味着操作者只需装载样品，确认零件，FT230就会处理其余的事情。它将在您的部件上找到正确的测量位置--即使是在大型基材上--选择正确的分析程序并将结果发送到您的质量系统。减少了时间和人为的错误，使得你可以在更短的时间内完成更多的分析，使高效率的检查在繁忙的生产环境中更加现实。


产品亮点

FT230的每一个部分都是为了大幅减少分析时间而设计的。

·        自动聚焦减少样品装载时间

·        Find My Part™ 自动进行智能识别以设置完整的测量程序

·        屏幕大部分区域用来显示样品视图，提供了不俗的可视度

·        自检诊断程序确保了仪器的状况和稳定性

·        与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据

·        由于采用了新的用户界面，非专业人员也能直观、方便地使用。

·        功能强大，可同时测量四层镀层也可分析基质

·        经久耐用，在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长

·        符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准

·        帮助您满足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸没锡（IPC-4554）和浸没银（IPC-4553A）的规格要求

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日立分析仪器（上海）有限公司为您提供日立FT230台式XRF镀层测厚仪 （SDD检测器），日立FT230产地为上海，属于国产X射线荧光测厚仪，除了日立FT230台式XRF镀层测厚仪 （SDD检测器）的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供XRF镀层测厚仪FT160、XRF镀层测厚仪X-Strata920 、日立FT230荧光X射线镀层分析仪 （正比例计数器）,日立分析仪器客服电话400-860-2717，售前、售后均可联系。

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