谷物 不完善粒 检测仪
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谷物 不完善粒 检测仪

参考价:¥15万 - 20万
型号: CUKA-IX
产地: 北京
品牌: 中检葆泰
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产品详情

粮食收购和贸易过程中,不完善粒是非常重要的定等作价指标。目前,粮食不完善粒检验,主要依靠人工,劳动强度极 大,检测数据不够全面准确,因此需要一种通用、高效、准确的检测设备来节约劳动力、提高准确率和一致性。中检葆泰 不完善粒检测仪借助图像扫描和智能算法,对每颗粮粒进行识别、判定,计算出不完善粒率,实时出具质检报告。

性能参数:

适用谷物类型: 小麦、玉米、稻谷、大豆、花生和瓜子等; 

检测指标:虫蚀粒、病斑粒(黑胚粒、赤霉粒)、破损粒、生芽粒、生霉粒、热损伤粒; 

检测方式:高通量连续扫描成像; 显示方式:同步实时显示检测结果; 

检测速度:4分钟内完成样品检测; 

成像系统:采用传送带输送高清线性扫描成像系统,分辨率0.024mm; 

自动化程度:具有进料自启动功能、样品检测完自动停止; 准确度高,误差小; 

节省工作空间,适应不同环境;

触摸屏,操作简单,数据保存方便快捷; 操作记录可追溯。

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北京中检葆泰生物技术有限公司为您提供中检葆泰谷物 不完善粒 检测仪CUKA-IX,中检葆泰CUKA-IX产地为北京,属于国产食品品质检测仪,除了谷物 不完善粒 检测仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多食品品质检测仪,中检葆泰客服电话400-860-5168转1701,售前、售后均可联系。

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