| 型号： | X-Strata920 |
| 产地： | 日本 |
| 品牌： | |
| 评分： |
|
日立镀层测厚仪
X-Strata920 是一款简洁、坚固和可靠的质量控制 XRF 台式荧光系统，用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。X-Strata920 可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定（如珠宝鉴定）等行业，完成单层或多层厚度测量。
主要特点包括：
? 成本低、快速、非破坏的 EDXRF 分析
? 可完成至多 4 层镀层（另加底材）和 15 种元素的镀层厚度测试，自动修正 X 射线重叠谱线
? 多元素辨识，广泛覆盖元素周期表上从钛（22 号）到铀（92号）各元素
使用能量色散 X 射线荧光（EDXRF）技术, X-Strata920 可实现如下测试要求：
? 符合 ISO3497 标准测试方法：金属镀层—X 射线光谱法测量镀层厚度
? 符合 ASTM B568 标准测试方法：X 射线光谱仪测量镀层厚度，包括金属和部分非金属镀层
? 至多同时分析 25 种元素
仪器特点
井深式、开槽式样品仓设计
? “井深式”样品仓设计，可以测量很小到很大的广泛尺寸的样品/零件 ，可测量样品高度不超过 160mm (6.3”)。样品台支架可放置在“深井”中的 4 个位置的卡槽上，使得不同样品都可以方便地测量。
? 样品台支架放置在标准位置时，就是“开槽式样品仓”，可以测量大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的印制线路板。所有样品可以很方便地放置并定位到待测点。
? Z 轴自动控制（Z 向行程：43mm/1.7”）
? 样品仓内部尺寸：152 x 279 x 508mm (6 x 11 x 20") (高 x 宽 x 深 D)
简洁、坚固、耐用的设计
? 经实践验证、坚固、耐用的设计，可在大多数严苛的工业条件下使用。
? 空间占用小 –节约宝贵的工作台空间，也可近产线放置。
? 计算机提供 USB 和网络接口用于连接打印机、光驱和网络。
相关产品
银宗透过率均匀度测试机YT-669
Thwing-Albert测厚仪
村上色彩透过率测试仪DOT-41
村上色彩积分球式分光透过率测定器DOT-7
村上色彩分光透过率测定器DOT-3C
Thwing-Albert 90°剥离测试仪
Thwing-Albert 180°剥离测试仪
Thwing-Albert拉伸试验机Vantage系列
Thwing-Albert QC-3A电子材料试验机
Thwing-Albert摩擦测试仪FP-2260
Thwing-Albert摩擦测试仪FP-260
TOPCON拓普康分光辐射计SR-5100
HORIBA堀场PH计HP-480
HORIBA堀场ORP计HO-200
HORIBA堀场PH分析仪pH-300
工商信息
信息已认证
关注
拨打电话
留言咨询
