扫描电镜和X射线能谱应用于涂布纸涂层的分析

2015-05-22 15:28  下载量:10

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电子显微镜(SEM)和 X -射线电子能谱(XPS), 同时结合实验对其运用进行了详细的介绍和分析。 结果表明:SEM 和 XPS相结合应用于涂层分析, 可以很好地获得涂层形貌和结构的信息。

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