利用扫描电子显微镜研究聚丙烯腈基碳纤维的形态结构

2015-08-19 11:39 下载量：25

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采用扫描电子显微镜（SEM）研究了聚丙烯腈（PAN）基原丝及其碳纤维的缺陷和表面沟槽等形态结构，并分析了表面处理后碳纤维与树脂基体的结合状态。结果显示：SEM 可以直观地观察到 PAN原丝及其碳纤维的表面及内部缺陷，这些缺陷主要遗传自原丝；经表面处理后，碳纤维与树脂基体间结合程度和强度显著提高。

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北京欧波同光学技术有限公司

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