分立器件测试仪

测试范围：
5000C测试系统是一项高速多用途半导体分立器件智能测试系统。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力。可真实准确测试达十九大类二十七分类大、中、小功率的半导体分立器件。
一、可测试种类
1．二极管 Diode 2.稳压（齐纳）二极管 Zener
3．晶体管 Transistor（NPN型/PNP型）
4．可控硅整流器（普通晶闸管） SCR
5．双向可控硅（双向晶闸管） TRIAC
6．MOS场效应管 Power MOSFET（N-沟/P-沟）
7．结型场效应管 J-FET （N-沟/P-沟，耗尽型/增强型）
8. 三端稳压器 REGULATOR（正电压/负电压，固定/可变）
9．绝缘栅双极大功率晶体管 IGBT（NPN型/PNP型）
10.光电耦合器 OPTO-COUPLER（NPN型/PNP型）
11.光电逻辑器件 OPTO-LOGIC
12.光电开关管 OPTO-SWITCH
13.达林顿阵列
14.固态过压保护器 SSOVP
15.硅触发开关 STS
16.继电器 RELAY（A、B、C型）
17.金属氧化物压变电阻 MOV
18.压变电阻 VARISTO
19.双向触发二极管 DIAC

技术参数及可实现目标

主极电压：1000V 通过内部设置可扩展到：2000V （5000V保留）
主极电流:50A 加选件可扩展到：400A/500A/1000A/1250A，2500A（保留）
控制极电压:20V 加大电流台选件可扩展到：80V
控制极电流:10A 加大电流台选件可扩展到：40A
电压分辨率:1mV
电流分辨率:100pA 加小电流台选件可扩展到：1pA