资料摘要
资料下载Spectra Academy由独立的检测器、光源及池支架三部分组成，另外还标配了许多附件。 将检测器和光源呈一条直线对接，可进行吸收/透过测量，这时Spectra Academy相当于一部单光束紫外/可见分光光度计；如果将检测器和光源呈90度角对接，则可以进行荧光光谱的测量，这时它又相当于一部荧光光谱仪。我们还可以干脆不接光源，让检测器独立工作，这时我们可以用它来测量入射光的光谱。拆装组合非常方便——只需拧两个螺丝。 这部超小超酷的分光光度计，采用创新的光路设计，没有机械传动装置，运转稳定。采用SONY 2048像素CCD作为检测器，光线在样品后进行分光，进行光谱扫描无需等待，即时得出数据。 另外Spectra Academy还可与光纤探头连接，进行原位测量
文献贡献者
OSP厚度测量仪(ST-4080 OSP)
简介：OSP厚度测量仪(ST-4080 OSP)是K-MAC公司于2007年推出的OSP厚度测量系统。其主要客户面向PCB/PWB生产厂家和OSP研究机构。RoHS法规推行无铅制程要求后，OSP(有机可焊性保护膜)制程在PCB行业逐渐开始应用。ST-4080 OSP采用不损害样品表面的白光干涉法，具有自动调焦功能，可实时测量并提供平均厚度和详细三维表面轮廓信息。
OSP厚度测量仪(ST-2080 OSP)
简介：OSP厚度测量仪(ST-2080 OSP)是K-MAC公司于2007年推出的OSP厚度测量系统。其主要客户面向PCB/PWB生产厂家和OSP研究机构。RoHS法规推行无铅制程要求后，OSP(有机可焊性保护膜)制程在PCB行业逐渐开始应用。ST-2080 OSP采用不损害样品表面的白光干涉法，提供平均厚度和详细三维表面轮廓信息，该手动型OSP测厚仪更适合普通客户的研究用测量。
薄膜厚度测量仪/测厚仪(ST系列)
简介：研究用薄膜厚度测量仪ST系列是K-MAC公司于2000年推出的面向大学、研究所和中小企业推出的科研型薄膜测厚仪，其采用白光干涉法，不损害样品表面，使用简便，可快速测量100A至数十μm水准的厚度，最多测量膜层可达3层。ST系列测厚仪可用于半导体、平板显示、纳米技术、电子材料等众多领域的研究。
便携式表面等离子体共振分析仪(SPRmicro)
简介：SPRmicro是K-MAC公司于2008年开发的微型低成本表面等离子体共振分析仪，其采用Krestschmann光学设计和微流控技术，通过测量折射率变化来检测生物大分子之间的相互作用。SPRmicro双通道微流模块可同时测量2个样品，通过USB接口与电脑连接后进行实验控制和数据采集分析。SPRmicro软件分为测量和分析部分，分析部分提供多种动力学拟合模型，方便不同类型反应的数据处理。
表面等离子体共振仪(SPR系列)
简介：SPR-i&SPRmicro是K-MAC公司分别于2005年和2008年推出的成像和微型SPR分析仪。SPR-i是阵列式的SPR成像仪，适合目标分子的高通量和快速筛选，拥有功能强大的成像处理系统。SPRmicro是微型低成本SPR分析仪，采用双通道微流控，配合外置蠕动泵和进样阀可快速分析分子间相互作用和动力学特性。SPRmicro通过USB2.0接口与电脑连接后进行测量控制和数据分析。SPRmicro软件分为测量和分析两部分，测量工具可同时对2个通道进行实时监控，分析工具提供多种动力学分析模型以满足不同领域不同应用的需要。
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