| 型号： | 三维测力系统 |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | AMPTEK |
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三维测力系统
三维测力系统是美嘉图公司的专利项目，于国内首创，它有可供调节的三维机械转轴和能够精确移动的Luld平台，通过此平台的精确移动来保证抓取样品的成功率，能保证精确地定位和多方向多角度的测量样品和抓手之间的粘附力；可以做到准确测量 5nN 到 100000nN 之间的压缩力和张力；可安装多种测量接头以应对复杂的测试环境和多样的测试样品。
一、 l Ludl 操作平台与Z轴系统、机械手臂
采用美国LUDL公司出产的移动平台，拥有高分辨率的 0.1μm 分辨率的线性编码器和交叉滚动轴承导轨，保证了定位的精确性和稳定度。机器手的长度、Z 轴高度与传感器接头都是可定制的，可以满足不同环境下的对不同形状样品的测量。精确的位置定位功能，可以辅助 MetaMorph 软件对样品进行图案化操作，实现微观的样品测试。
二、 0 MAC6000 平台
MAC6000系统是LEP第六代自动控制器。主要用于显微镜自动系统，该系统具有灵活的通讯端口，并支持较大范围的马达驱动和 I/O 控制设备。系统配置比先前 LEP 控制器早期的版本更加简化灵活。它具有卡盘式固定结构，保证操作时样品的固定。其消除了传统设计既定的强加限制，MAC6000 控制器只能配备组件的不同组合，以满足不同的应用需求。MetaMorph 软件实现样品的精确定位及图案化。
三、 显微镜
SMZ 1270 显微镜及通用支架技术参数：SMZ1270 显微镜为放大倍数 6.3x-80x；可以更换为 smz800N 型号，变倍系数及放大倍数与 smz1270 显微镜一致。通用支架：垂直移动最大距离 229mm，水平移动最大距离 272mm，聚焦区域40mm，加载接头约 0.6kg，抗静电。分辨率 0.9μm，景深 8.6μm。
地址：北京海淀区中关村南大街12号科技综合楼202室
邮编：100081
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