方案摘要
方案下载| 应用领域 | 建材/家具 |
| 检测样本 | 砖/瓦/石材 |
| 检测项目 | |
| 参考标准 |
运用X 射线衍射的方法测试了微晶陶瓷复合砖表面的残余应力，发现抛光微晶玻璃表面残余应力较小。通过分析微晶玻璃陶瓷复合砖表面残余应力产生的原因，指出X 射线衍射测得的表面残余应力主要由瓷坯与微晶玻璃间的膨胀系数差别及冷却时温度梯度引起的热应力造成。X 射线应力测试和微晶玻璃表面扫描电镜图像都显示，微晶玻璃中硅灰石晶相有取向性。
文献贡献者
手持便携式分析仪在金属制造各种应用
用手持式LIBS分析富锂矿物
SciAps手持式光谱仪的不锈钢材质检测应用
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