型号: | ME-210/110 |
产地: | 日本 |
品牌: | |
评分: |
|
北京飞凯曼公司提供光子晶体探测器型椭偏仪。这种光子晶体探测器型的椭偏仪是有日本Photonic Lattice公司首创,并应用到椭偏仪的测试中。日本Photonic Lattice公司在光子晶体的研究和制造领域领先世界,由此开发出的光子晶体探测器型椭偏仪具有测试速度快、测量准确、免维护、价格低廉等特点已经在光学薄膜、半导体薄膜、有机薄膜等领域有着广泛的应用。该椭偏仪可快速准确测量薄膜的厚度和折射率的分布。
相比传统的光谱型椭偏仪,光子晶体探测器型椭偏仪避免了探测器的机械运动。使得测试速度更快、测试更加准确、成本更加低廉。
ME-210型光子晶体探测器型椭偏仪特点:
1) 可用于8英寸样品的3D快速成像
2) 可用于厚度差异小于1nm以内的薄膜的快速和高精度成像
3) 超高速测量,最高速度可达20000点/分钟
4) 超高分辨率的测量,最小面积可达50um2
5) 可进行透明基底上的薄膜的测试
技术规格:
型号 | ME-210/110 | |
重复性精度 | 0.1nm(厚度), 0.001(折射率) | |
测量速度 | 每分钟1000个点以上 | |
光源 | 636nm 半导体激光器 | |
测量点尺寸 | 0.5mm2 | |
入射角 | 70度 | |
样品尺寸 | 8英寸(可选12英寸) | |
仪器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg | |
数据接口 | 千兆以太网(摄像机信号),RS-232C | |
电源 | AC100-240V(50/60Hz) | |
软件 | SE-View |
详细信息请咨询我们。
相关产品
Semilab GES5E全光谱椭偏仪
Semilab WT-1200A 少子寿命测试仪
SEMILAB DS95扫描探针显微镜
Semilab SOPRA SE-2000 GES5-E光谱椭偏仪
立陶宛EKSMA Optics公司激光光学元件
DLS-83D型深能级瞬态谱仪DLTS
WT-2000型少子寿命测试仪
EKSMA KTP普克尔盒
EKSMA BBO普克尔盒
EKSMA KDP普克尔盒
EKSMA DPS/DPD 普克尔盒驱动
EKSMA DP-SP短脉冲普克尔盒驱动
EKSMA标准铝外壳封装的单极普克尔盒驱动
EKSMA标准铝外壳封装的双极普克尔盒驱动
EKSMA FULL-BRIDGE普克尔盒驱动
关注
拨打电话
留言咨询