X射线荧光镀层厚度测量仪

品名：X射线荧光镀层厚度测量仪

型号：SFT9200 

可测量元素：原子序数22(Ti)～92(U)
X射线源：小型空气冷却型X射线管球 管电压：45kV 管电流：1mA Be窗
滤波器：一次滤波器：Al 二次滤波器：Co 数字滤波器
检测器：比例计数管
准直器：方型：0.2×0.05mm 0.05×0.02mm
圆形：Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm

安全性能：样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、仪器自动诊断功能

样品图像对焦方式：激光自动对焦

样品观察：彩色CCD摄像头
样品平台大小及承重：240mm(W) ×170mm(D) 10kg
重量：125kg (不含电脑)
修正功能：底材修正、已知样品修正、人工输入修正
测量报告书制作：配备MS-EXCEL® MS-WORD®(使用宏支持自动制作测量报告书)
测量能谱与样品图像保存功能


主要特点

1. 能够测量无铅焊锡
配备了薄膜FP法，可以同时测量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，无铅焊锡的镀层后与成份
2. 搭载中心搜索软件
通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。
3. 拥有防冲功能
4. 搭载激光对焦系统
5. 即时生成测量报告的便捷性
运用搭载的Microsoft Word® Excel® 可以简单轻松得到制作报告。
6. 拥有自动测量软件以及中心搜索软件
7. 搭载了薄膜FP法软件
8. 自动对焦功能
配备激光自动对焦功能，能够准确对焦，提高测量效率。


仪器介绍

[SFT9200系列]继承了拥有20多年历史及光辉业绩的[SFT系列]（操作性与可靠性共存）的有点，并不断发展，成为可对应较广应用范围的X射线荧光镀层厚度测量仪[新标准机型]。