日立XRF镀层测厚仪FT110A_价格-日立分析仪器（上海）有限公司

XRF镀层测厚仪FT110A

参考价：¥20万 - 50万

型号：

FT110A

产地：

日本

品牌：

日立

评分：

产品详情

微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。

基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。

高通量镀层分析

FT110A 是一款台式 XRF 分析仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合高标准。

准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心，而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用，提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A 能够同时测量多达四层以及基材，将全天候支持您的设施满足高标准的行业电镀规范。

产品亮点

专为高通量生产而设计，来看 FT110A 如何支持您的质量控制。

强大的高灵敏度技术可在几秒钟内提供结果
对成品安全的无损检测
自动化功能提高生产力
分析多达四层和基材，加上电镀液

易于非专业操作员使用
测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987
大样品舱可容纳各种样品
可定制的选项以适合您的应用

	FT110A
元素范围	Ti – U
探测器	正比计数器系统
样品舱设计	开闭式或开槽式
准直器数量	2 或 4
准直器下限	0.025 x 0.4 mm
XY轴样品台选择	程控或固定
XY轴样品台行程	250 x 200 mm
程控Z轴行程	150 mm
样品尺寸上限	500 x 400 x 150 mm
样品聚焦	聚焦激光和可选的自动聚焦
样品视图	摄像头视图和可选的第二广角摄像头
测量点识别	可选
软件	X-ray Station

产品对比

日立分析仪器（上海）有限公司为您提供日立XRF镀层测厚仪FT110A，日立FT110A产地为日本，属于进口X射线荧光测厚仪，除了XRF镀层测厚仪FT110A的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供XRF镀层测厚仪X-Strata920 、XRF镀层测厚仪FT160,日立分析仪器客服电话400-860-2717，售前、售后均可联系。

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