DOI(低阻金刚石薄膜)

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参考价:面议
型号: DOI(低阻金刚石薄膜
产地: 美国
品牌: 合肥科晶
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产品详情

产品名称:

DOI(低阻金刚石薄膜Diamond?on?Oxide

 

产品参数:

 

 

 

 

 

 

基底尺寸: dia4"x0.5mm

Si晶向:<100>±0.5°

绝缘层:SiO2

薄膜厚度:2um

氧化层:1um

电阻率:<0.1 ohm-cm

   

标准包装:

1000级超净室100级超净袋真空包装或者单片盒装                     

 

合肥科晶材料技术有限公司为您提供合肥科晶DOI(低阻金刚石薄膜),合肥科晶DOI(低阻金刚石薄膜产地为美国,属于仪表元件/仪表材料/仪表工艺,除了DOI(低阻金刚石薄膜)的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多仪表元件/仪表材料/仪表工艺,合肥科晶客服电话400-860-5168转2205,售前、售后均可联系。

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