日立扫描探针显微镜控制器

日立扫描探针显微镜控制器

报价:¥50万 - 100万
型号: AFM5000II/RealTune®II
产地: 日本
品牌: 日立
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核心参数
产品详情
简介
该设备配备了改良的RealTune™ II测量参数自动调整功能和直观的图形用户界面,使得即使是初学者也能轻松获取高质量的数据。无论面对何种样品,一键式操作即可完成复杂调整,确保高精度测量。此外,设备还提供了多种分析功能和3D可视化工具,适用于各种环境,便于操作和分析。

标准配备改良过的测量参数自动调整功能,以及简单明了的图形用户界面。因此,即使是刚刚接触SPM的人,或者测量某种全新的样品时,也能取得具有较高再现性的数据。

·         图标说明

*RealTune是日立高新技术科学股份公司在日本的注册商标。


·         特点

1. RealTune®II 最新的测量参数自动调整功能

·         提升独有的测量参数自动调整功能!
此系列开发出一种全新的处理方法,可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数。其通过对样品表面的形状、扫描区域、使用的悬臂及扫描仪等的综合评价,高效率、高精度地调整成最合适的测量条件。

·         通过新增加了振幅调整功能的测量参数自动调整功能(RealTune®II),可实现一键(One Click)测量。原来需要熟练操作的测量,现在没有经验的操作员也可以简单地操作。

·         也可用于很难调整参数的样品。

【实例1】纤维状的碳纳米管结构体(壁虎胶带)
【样品提供:日东电工股份公司】

此前的方法
此种样品需要对参数进行精细的调整,操作困难,并且柔软的纤维易变形产生皱痕。

新处理方法
自动调整成最合适的参数,可在复杂的纤维结构不变形的前提下进行测量。


【实例2】用于有机薄膜晶体管的多结晶薄膜(并五苯多结晶薄膜)
【样品提供:神户大学北村研究室】

此前的方法
此款样品表面容易损坏,易产生皱痕、step的轮廓也不明确。

新处理方法
自动调整为最合适的参数,稳定地测量分子级别上的step结构。

2. 新图形用户界面(Graphical Use Interface)

简单菜单

·         简单明了易懂的图标、严格筛选的显示信息,无论是无经验者还是熟练操作员,都能够方便地操作!

·         可通过选项卡在测量及分析作业领域之间切换,画面简洁明了。可有效地广泛使用。

3. 3D覆盖功能

能够将样品形状图像及物理性质图像重合起来显示,并能进一步构画出3D图像,可以通过视觉形象地感受样品的物理性质的分布。

4. 凹凸分析、剖面轮廓分析功能

具备凹凸分析、剖面轮廓分析等多样化的分析功能。

5. 小型化设计

外形更轻便、更小型化,适合各种放置场所。
220mm(W)×500mm(D)×385mm(H)、約15kg

 

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日立科学仪器(北京)有限公司为您提供日立扫描探针显微镜控制器AFM5000II/RealTune®II,日立AFM5000II/RealTune®II产地为日本,属于进口扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM),除了日立扫描探针显微镜控制器的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供日立AFM100系列多功能扫描探针显微镜、全自动扫描探针显微镜 AFM5500MⅡ,日立科学仪器客服电话400-803-2799,售前、售后均可联系。
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