日立双束(三束)聚焦离子束系统NX2000
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日立双束(三束)聚焦离子束系统NX2000

参考价:面议
型号: NX2000
产地: 日本
品牌: 日立
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追求最完美的大样品仓FIB系统

在高端设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为不可或缺的工具。
近来,目标观察物更趋微细化;更薄,更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。
日立高新公司,整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术,再加上加工方向控制技术以及Triple Beam®*1(选配)技术,推出了新一代产品NX2000。


运用高对比度,实时SEM观察和加工终点检测功能,可制备厚度小于20 nm的超薄样品

加工方向控制技术(Micro-sampling®*3系统(选配)+高精度/高速样品台)对于抑制窗帘效应的产生,以及制作厚度均一的薄膜类样品给予厚望。

Triple Beam®*1(选配)可提高加工效率,并能使消除FIB损伤自动化


日立科学仪器(北京)有限公司为您提供日立双束(三束)聚焦离子束系统NX2000,日立NX2000产地为日本,属于进口聚焦离子束显微镜,除了日立双束(三束)聚焦离子束系统NX2000的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多聚焦离子束显微镜,日立科学仪器客服电话400-803-2799,售前、售后均可联系。

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