日立高新功能性高分子纳米线的观察分析例

        高分子纳米线以其良好的柔软度和透明度等特性,被广泛认为是下一代传感器、开关等纳米电子元器件的替代材料。但是,用原来的模板制作法的话,只能做出极限直径为300nm的纳米线,而纳米材料特有的量子效应根本无法体现出来。物质材料研究机构使用激光成果制造出具有磁性的细纳米线。上面的观察例正是使用SU9000对其形貌进行观察分析的。

        上图是高分子纳米线的SE图像和BFSTEM图像。通过标尺,可以确定该纳米线的直径大约为30nm,还可以发现附着在纳米线上直径约10nm的颗粒的平面分布情况。再通过两张图像的对比,可以发现只有在BFSTEM图像上才有的颗粒是在纳米线内部的。

样品提供:物质材料研究机构 MANA NanoElectronics材料Unit 

后藤真宏教授、佐佐木道子教授

        图(a)是高分子纳米线的DFSTEM图像,图(b),(c)是在图(a)的视野中的EDX的Mapping结果。通过Mapping图像可以判断出DFSTEM图像中观察到的颗粒的成分,并判断出其为功能性纳米材料氧化铁。

(EDX分析条件:观察倍率x500k,分析时间20分)

样品提供:物质材料研究机构 MANA NanoElectronics材料Unit 

后藤 真宏教授、佐佐木 道子教授

        因为有机纳米线具有很好的柔韧和光学透过性能,因此在新纳米器件领域得到广泛的应用,例如传感器、发光器件、光学开关装置等。典型的纳米线制造技术采用的是模板,但是这种技术限制了纳米线的直径在数100nm,这样很难实现量子效应,获得直径在数10nm以下的纳米线,NIMS团队开发了一套全新的技术,是世界上同类技术的领先者,简单的通过高度控制的激光辐照材料来实现。SU9000用来评价这种技术制造出来的纳米线结构。

        上图是聚苯乙烯纳米线的二次电子像和明场像,可以观察到纳米线的直径在30nm,上面附有10nm大小的纳米颗粒。同时通过对比二次电子像和明场像,还可以判定氧化铁纳米颗粒还存在于纳米线的内部。

样品提供:物质材料研究机构 MANA NanoElectronics材料Unit 

后藤 真宏教授、佐佐木 道子教授

        从EDX面分布像可以看到,氧和铁分布在暗场像中纳米颗粒的位置处,这些颗粒就是用于功能材料的。

 (EDX 分析条件: 倍率 : X500k, 分析时间: 20 min.)

样品提供:物质材料研究机构 MANA NanoElectronics材料Unit 

后藤 真宏教授、佐佐木 道子教授

 

关于上文中提及的SU9000,请参阅:

http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/C138508.htm

 

关于日立高新技术公司:

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合性高新技术公司。日立高新技术公司的生命科学系统本部,通过提供高端的科学仪

器,提高了分析技术和工作效率,有力推进了生命科学领域的研究开发。我们衷心地

希望通过所有的努力,为实现人类光明的未来贡献力量。

  更多信息请关注日立高新技术公司网站:http://www.hitachi-hitec.cn

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