日立高新F-7000新增荧光指纹图谱功能，助您分析更得力

日立科学仪器（北京）有限公司

2014/08/21 10:11

荧光指纹图谱是指使用荧光分光光度计对样品进行三维扫描,获得激发波长(Ex)、发射波长（Em）和荧光强度的全部信息，因其丰富的样品信息量，解析后可作为食品种类、产地溯源的依据及有害物质的判别、LED粉等材料性能的判定等，受到了越来越多的关注。

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三维荧光指纹图谱因其样品信息较多，所以对荧光分光光度计的扫描速度提出了很高的要求。而日立的F-7000荧光分光光度计的扫描速度是目前同类仪器中最快的，可达到60000nm/min，大大缩短测定时间，提高工作效率。

为了排除倍频峰等的干扰，获得更高精度的荧光指纹图谱，我们还推出了自动滤光器附件。此附件还可通过滤光补偿功能，消除滤光片切换引起的荧光强度差异。

关于更多日立F-7000新增荧光指纹谱图功能的信息，请与我们联系：零一零六五九零八七零七。

关于日立F-7000荧光分光光度计，请参考：

http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/C138207.htm

关于日立高新技术公司：

日立高新技术公司，于2013年1月，融合了X射线和热分析等核心技术，成立了日立高新技术科学。以“光”“电子线”“X射线”“热”分析为核心技术，精工电子将本公司的全部股份转让给了株式会社日立高新，因此公司变为日立高新的子公司，同时公司名称变更为株式会社日立高新技术科学，扩大了科学计测仪器领域的解决方案。日立高新技术集团产品涵盖半导体制造、生命科学、电子零配件、液晶制造及工业电子材料，产品线更丰富的日立高新技术集团，将继续引领科学领域的核心技术。

更多信息敬请关注：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/

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