FEI1500万美元与日立就FIB专利纠纷达成和解

日立科学仪器（北京）有限公司

2012/08/27 09:06
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　　2012年8月21日，日立高新技术公司（以下简称为：日立高新）宣布，它已解决了与FEI公司的纠纷，纠纷涉及日立高新聚焦离子束(FIB)设备相关的专利。为了解决由日立高新提出的各种专利侵权案件，FEI想要获得日立高新FIB相关专利许可。基于双方谈判，日立高新同意授予FEI相关专利许可，并最终达成了合理的和可接受的协议条款。

　　协议条款规定，日立高新将关闭所有未决索赔的法律和行政程序。协议金融的条款包括FEI一次性付给日立高新1500万美元，协议的框架是交叉许可。其他具体和解条款是保密的。

　　日立高新视其知识产权为极其重要的资源，并将继续尽一切努力保护这些权利。

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