三丰半导体检测用显微镜单元FS-70系列378系列

参考价：面议

型号：

FS-70系列378 系列

产地：

日本

品牌：

三丰

评分：

产品详情

• 带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。

• 多种显微镜镜体通常用作适用于专业器械的OEM (原厂委制)产品，如那些利用YAG (近红外、可见、近紫外或紫外)激光*对半导体晶片进行检测和修补的设备。 *不保证激光系统产品的性能和安全性。

• 应用：切割、修整、校正、给半导体电路做标记/薄膜(绝缘膜)清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。

• 可用于红外光学系统*。应用：晶体硅的内部观察；红外光谱特征分析。 *需要红外光源和红外摄像机。

• 支持BF (亮视场)、DF (暗视场)、偏振光及微分干涉对比(DIC)的型号(产品)可用。• 带有孔径光阑的柯勒照明是表面照明光学系统上的标准配件。

• 内倾转塔和超长工作距离的物镜确保了显微镜下的高可操作性。

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Business information

工商信息

信息已认证

企业名称: 日本三丰
企业类型:
信用代码: 310115400084565
成立日期: 2001年09月28日
注册资本: 80
经营范围: 区内以精密测量仪器设备为主的仓储(除危险品)、分拨、展示、技术咨询及售后服务;国际贸易、转专口贸易、区内企业间的贸易及贸易代理;区内商业性简单加工及商务咨询服务;精密测量仪器设备及相关零件、附属品与相关软件的批发、佣金代理(拍卖除外)、进出口及其它相关配套业务:提供上述同类商品的维修、安装及技术服务。

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