其他null检测 | 扫描电镜之EDX能谱分析篇-复纳科学仪器（上海）有限公司

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参考标准	扫描电镜，台式电镜，台式扫描电镜，X射线，能谱

扫描电子显微镜（SEM）利用电子束从纳米尺度的样品中获取信息。所检测到的主要信号类型是背散射电子（BSE）和二次电子（SE），它们在高倍率下生成样品的灰度图像。然而，还有许多其他的电子与样品表面物质相互作用的产物——这些信号可以提供关于样品的额外信息。在这篇博客中，我们将阐述扫描电镜中的能谱（EDX）是如何工作的。

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扫描电子显微镜（SEM）利用电子束从纳米尺度的样品中获取信息。所检测到的主要信号类型是背散射电子（BSE）和二次电子（SE），它们在高倍率下生成样品的灰度图像。然而，还有许多其他的电子与样品表面物质相互作用的产物——这些信号可以提供关于样品的额外信息。在这篇博客中，我们将阐述扫描电镜中的能谱（EDX）是如何工作的。

电子 —— 与样品表面的相互作用

入射电子与样品表面的物质相互作用产生了各种各样的信号，这些信号携带了关于样品的不同信息（图1）。例如，背散射电子产生的图像与原子序数的差异有关; 二次电子给出了形貌细节信息，阴极发光可以提供关于电子结构和材料化学成分的信息; 透射电子可以描述样品的内部结构和晶体学。在扫描电镜中广泛使用的另一种信号是X射线。

图1：电子物质相互作用中产生不同信号的例证。

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文献贡献者

复纳科学仪器（上海）有限公司

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