方案摘要
方案下载应用领域 | 钢铁/金属 |
检测样本 | 其他 |
检测项目 | 理化分析>形貌观察分析 |
参考标准 | 扫描电镜,台式电镜,台式扫描电镜,桌面扫描电镜,样品制备 |
由于增材制造的重要性日益提高,颗粒分析变得越来越重要,导致工业制造商对产品的质量要求更严格。除了产量最大化外,制造商还需要确保其工艺始终可以提供具有适当尺寸和形态的颗粒。 在本篇文章中,将讨论如何使用 Nebula™ 颗粒分散器实现颗粒均匀分散,并且可以使用飞纳电镜的颗粒统计分析测量系统分析颗粒。
由于增材制造的重要性日益提高,颗粒分析变得越来越重要,导致工业制造商对产品的质量要求更严格。除了产量最大化外,制造商还需要确保其工艺始终可以提供具有适当尺寸和形态的颗粒。
在本篇文章中,将讨论如何使用 Nebula™ 颗粒分散器实现颗粒均匀分散,并且可以使用飞纳电镜的颗粒统计分析测量系统分析颗粒。
分散粉末样品的原因
为了确保颗粒分析的准确性,不仅需要分离单个颗粒,而且还要分离附着物。图 1 显示了将粉末样品直接添加到碳导电胶上和使用 Nebula™ 颗粒分散器之间的区别。
图1:将粉末样品直接涂覆到碳导电胶(左)和使用 Nebula™ 颗粒分散器(右)之间的扫描电镜图比较。
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