解放双手 —— 24h SEM 全自动扫描电镜测试了解一下

2020/03/25   下载量: 0

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应用领域 其他
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检测项目
参考标准 扫描电镜,台式电镜,台式扫描电镜,桌面扫描电镜,场发射电镜

你是否经历过在电镜室里加班到深夜,头昏眼花,但却有大把的样品测不完,只能独自神伤。虽然扫描电镜越来越高级,但大部分繁琐的工作仍需要人工操作。找样品特征点所花费的时间太长,很多扫描电镜工程师都面临这样的处境,有的同学不以为然,但这往往是电镜测试难预约的原因。 Particle X 能基于算法快速找到颗粒群中的“它”,并搭配能谱仪,可以直观的获取颗粒的形状和成分信息。同时,通过自动移动拍照——自动颗粒识别——自动颗粒分析,可以在短时间分析大量颗粒,弥补了电镜法检测效率低的问题。

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Particle  X 能基于算法快速找到颗粒群中的“它”,并搭配能谱仪,可以直观的获取颗粒的形状和成分信息。同时,通过自动移动拍照——自动颗粒识别——自动颗粒分析,可以在短时间分析大量颗粒,弥补了电镜法检测效率低的问题。


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Particle X 全自动扫描方案


我们通过研究单颗粒的性质,推断其与整体宏观性质之间的关系,从而构建了微观材料的研究方法。每一个颗粒都是微观世界的芸芸众生,虽不是巧夺天工,玲珑剔透,但在研究者眼中也是无与伦比,妙不可言。


可再厉害的研究者,精力也是有限的,即便在自动化设备的辅助下,我们也只能做到部分指标的高通量测试,尤其是可视化的扫描电镜测试方案,一直缺乏一种可以“雨露均沾”的方案,就像人口普查一样,让研究者能真正掌握样品的所有个体信息。


扫描电镜测试是一种常规的微纳米材料表征手段,但其局限在于你很难对样品的所有区域进行分析,这就造成测试人员总是会选取典型的区域进行分析观察,一些重要的信息可能就此石沉大海。由于电镜测试更多的是为了支持其它测试结果,精细的抽查已经能满足结论的需求,样品的大部分区域就被放弃了。一种最为理想的方式是能够对抽查的样品进行全面的分析,即抽查与普查的结合。

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