方案摘要
方案下载应用领域 | 钢铁/金属 |
检测样本 | 其他 |
检测项目 | 理化分析>其他 |
参考标准 | 扫描电镜,台式电镜,桌面扫描电镜,金属,金属颗粒 |
金属颗粒的识别是清洁度分析的重要要求。近年来,金属颗粒的光学检测通常是通过光泽度进行的。根据实验室经验,我们发现光学显微镜分析通常会导致错误的分类,这可以通过使用扫描电镜和能谱(SEM+EDX)的检测方法进行材料分析,轻松避免金属颗粒的误识别。
金属颗粒的识别是清洁度分析的重要要求。近年来,金属颗粒的光学检测通常是通过光泽度进行的。根据实验室经验,我们发现光学显微镜分析通常会导致错误的分类,这可以通过使用扫描电镜和能谱(SEM+EDX)的检测方法进行材料分析,轻松避免金属颗粒的误识别。
光学显微镜与扫描电镜检测的原理是什么?
金属颗粒的光学显微镜检测是基于光反射进行的,包含亮点的颗粒被分类为金属杂质。在所有其他情况下,该颗粒被视为非金属杂质。在扫描电镜和能谱(SEM+EDX)的分析中,会测量颗粒的 X 射线光谱,从而识别其元素成分,实现精确的材料分类。
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