多层膜型XRF分析晶体

多层膜型XRF分析晶体

参考价：面议
型号： Multilayers XS-55, XS-N, XS-C, XS-B
产地： 德国
品牌： Incoatec
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北京众星联恒科技有限公司
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Multilayers XS-55, XS-N, XS-C, XS-B

Multilayers are not natural crystals but artificially produced “layer analyzers.” The lattice plane distances d

are produced by applying thin layers of two materials in alternation onto a substrate (Fig. 18). Multilayers

are characterized by high reflectivity and a somewhat reduced resolution. For the analysis of light

elements the multilayer technique presents an almost revolutionary improvement for numerous

applications in comparison to natural crystals with large lattice plane distances.

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Fig. 18: Diffraction in the layers of a multilayer crystal

XS-55:

The most commonly used multilayer with a 2d-value of 5.5 nm for analyzing the elements N to Al and Ca

to Br; standard application for measuring the elements F, Na and Mg.


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