产品简介
平场、垂直入射光谱仪
专有的无狭缝设计以保证最高效率
波长范围30 ~ 250 nm
同品类中最紧凑的光谱仪
模块化、成套设计
easyLIGHT XUV以前所未有的效率提供宽带光谱测量。 无狭缝设计直接对辐射源成像,从而消除了繁琐的入口狭缝。 30至250nm的光谱范围方便地涵盖了HHG和等离子体诊断中的许多应用。 与掠入射光谱仪相比,easyLIGHT XUV的垂直入射设计可提供简单的安装和对准。 模块化设计与各种实验几何形状和配置相匹配。 easyLIGHT具有集成的狭缝固定器和闭环电动光栅定位功能。
探测器可选类型:
基于easyLIGHT光谱仪的定制设计可讨论
无狭缝设计
HPS公司专有的光谱仪设计可用于直接源成像。 因此,不需要狭窄的入口狭缝,并且可以最大程度地收集入射光。 与传统的光谱仪架构相比,到达探测器的光强会高出20倍。 该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。
Topology/类型 | aberration-corrected flat-field spectrometer 像差校正平场入射光谱仪 |
波长范围 | 30-250nm |
光源距离 | 可根据用户实际光路灵活调整 |
探测器类型 | CCD /MCP/CMOS |
真空兼容度 | <10-6mbar (UHV超高真空版本可定制) |
无狭缝技术 | 含 |
输入狭缝 | 可选 |
光栅定位 | 闭环电控台 |
滤光片插入单元 | 含 |
数据接口 | USB or Ethernet |
软件 | Windows UI / Labview, VB, C, C++ SDK |
定制能力 | 可根据需求定制 |
其余可选项 | 非磁性,旋转几何等 |
|
色散能力 | ~2.0nm/mm |
分辨率 | <0.1nm |
平场面物理尺寸 | 75mm |
偏差角 | 94° |
应用
高次谐波光源
阿秒科学
强激光与物质相互作用
激光和放电产生等离子体源
同步辐射光束表征
自由电子激光
北京众星联恒科技有限公司为您提供HP SpectroscopyeasyLIGHT XUV 紧凑型平场极紫外光谱仪,HP SpectroscopyeasyLIGHT XUV 产地为德国,属于进口紫外、紫外分光光度计、紫外可见分光光度计、UV,除了easyLIGHT XUV 紧凑型平场极紫外光谱仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多紫外、紫外分光光度计、紫外可见分光光度计、UV,北京众星联恒客服电话,售前、售后均可联系。