型号: | FCLM-λλλ-PLRXX-M-FF |
产地: | 美国 |
品牌: | ONDAX |
评分: |
|
Ondax FCLM系列单频激光光纤耦合模块可以提供大部分的ONDAX稳频半导体激光器;通过一个模拟控制接口实现远程控制,包含精密的温度、电流和TTL调制控制;光纤耦合输出非常方便集成进拉曼或OEM仪器应用。可得到的波长从405nm-808nm,可根据要求提供多模光纤选项。
主要特点:
1,单频,单模光纤耦合输出;
2,优异的温度稳定性和电流稳定性;
3,调制到100KHz;
4,用户远程控制;
5,小型化:80mmx61mm
主要技术参数:
激光波长(nm) | 405 | 638 | 658 | 685 | 690 |
波长偏差(nm) | ±0.5 | ±1 | ±1 | ±1 | ±1 |
输出功率(mW) | 6 | 8 | 10 | 13 | 13 |
线宽(MHz) | 160 | 300 | 300 | 50 | 100 |
光纤/接口 | 单模 FC/APC | ||||
偏振 | 100:1 | ||||
噪声(RMS,0-20MHz) | 典型0.1%,最大0.2% | ||||
功率稳定性(1hr) | 典型0.25%,最大0.5% | ||||
调制-TTL(可选项) | 典型150MHz | ||||
模拟调制(标准) | 典型100MHz | ||||
模块尺寸(mm) | 114x80x61 |
应用领域:
1,拉曼光谱
2,计量学
3,生物医学仪器
4,激光雷达
5,传感,遥感
6,分析仪器。
相关产品
PHL应力双折射测试仪
PHL双折射应力仪WPA-Micro
PHL显微型应力双折射仪
应力双折射测试仪器WPA-200,WPA-200-L
PHL应力双折射仪 PA-200
PHL偏振相机 PI-110
PL光子晶体波片
PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101
Adamand Namiki 光干涉内周面测量仪 NMH-01
Lasertec激光白光混合共聚焦显微镜系统HYBRIO
蓝宝石专用双折射测量仪
球坑测厚仪
Photonic Lattice显微应力双折射分析仪 PA-Micro
Micro Support微区取样器AXIS Pro
ARMS SYSTEM无掩模光刻机/直写光刻机UTA-IA
关注
拨打电话
留言咨询