Photonic Lattice晶圆应力双折射缺陷检测设备PA-300-XL
优选

Photonic Lattice晶圆应力双折射缺陷检测设备PA-300-XL

参考价:面议
型号: PA-300-XL
产地: 日本
品牌: Photonic Lattice
评分:
核心参数
北京欧屹科技有限公司
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产品详情

主要特点:

  • 操作简单,测量速度可以快到3秒。

  • 视野范围内可一次测量,测量范围广。

  • 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。

  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。

  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。

  • 高达2056x2464像素的偏振相机。


应用领域:


  •    SIC

  •    蓝宝石

  •    激光晶体

技术参数: 

    项次

           项目            

具体参数

1 

输出项目 

相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】


2

测量波长

520nm


3

双折射测量范围

0-130nm


4

测量最小分辨率

0.001nm


5

测量重复精度

<0.1nm


6

视野尺寸

40x48mm到240x320mm(标准)


7

选配镜头视野

可选


8

选配功能    

实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制


北京欧屹科技有限公司为您提供Photonic Lattice晶圆应力双折射缺陷检测设备PA-300-XL ,Photonic LatticePA-300-XL 产地为日本,属于进口其他晶圆缺陷检测设备,除了Photonic Lattice晶圆应力双折射缺陷检测设备PA-300-XL 的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供PHL应力双折射测试仪、PHL应力双折射仪 PA-200、应力双折射测试仪器WPA-200,WPA-200-L,欧屹科技客服电话,售前、售后均可联系。

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