Photonic Lattice 红外双折射（内应力）测量仪 WPA-200-NIR
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Photonic Lattice 红外双折射（内应力）测量仪 WPA-200-NIR
优选

Photonic Lattice 红外双折射（内应力）测量仪 WPA-200-NIR

参考价：面议
型号： WPA-200-NIR
产地： 日本
品牌： Photonic Lattice
评分：
核心参数
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产品详情

Photonic Lattice 红外双折射（内应力）测量仪 WPA-200-NIR


 

                                                         

 主要特点

l红外波长的双折射/相位差/内应力面分布测量

l硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估

l小型、簡単操作、高速測量

 

WPA-200-NIR能高速的测量/分析波长为850nm的双折射分布

安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View

可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据

可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场

WPA200NIRPC_3.png

 

WPA-200-NIR的功能

 

1.     高速测量面的双折射/相位差分布  

              NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息

2.     测量数据的保存/读取       

              全部的测量结果都可以做保存/读取。易于跟过去的测量结果做比较等

3.     丰富的图形创建功能           

               从测量后的面信息，可以自由制作线图形和直方图。 复数的测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出



主要技术参数


型号

WPA-200-NIR

测量范围

0~3500nm

重复性

<1.0nm

测量尺寸范围3×4mm~100×133mm

像素数

384*288 pixels

测量波长

810nm，850nm 870nm

尺寸

270x337x631mm

自身重量

13kg




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