型号: | KAMAKIRI STS-LS |
产地: | 日本 |
品牌: | Photonic Lattice |
评分: |
|
主要特点:
适用于薄膜等生产线上,实现全长全款的双折射测量。
LIVE实时输出双折射的信息。
OK/NG 可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报。
操作简单,可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。
实时记录双折射的数值数据,以进行进一步详细分析。
可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。
应用领域:
相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC)
保护薄膜(PET/PEN/PS/PI)
树脂成型
玻璃
技术参数:
项次 | 项目 | 具体参数 |
1 | 输出项目 | 相位差【nm】,轴方向【°】 |
2 | 测量波长 | 543nm(支持客制化) |
3 | 双折射测量范围 | 0-260nm |
4 | 对应传送速度 | 约30m/min(支持客制化) |
5 | 测量重复精度 | <1nm |
6 | 视野尺寸 | 全宽全长 |
7 | 选配镜头视野 | 可扩展 |
8 | 选配功能 | 可定制膜宽超过5m的系统 |
相关产品
PHL应力双折射测试仪
PHL双折射应力仪WPA-Micro
PHL显微型应力双折射仪
应力双折射测试仪器WPA-200,WPA-200-L
PHL应力双折射仪 PA-200
PHL偏振相机 PI-110
PL光子晶体波片
PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101
Adamand Namiki 光干涉内周面测量仪 NMH-01
Lasertec激光白光混合共聚焦显微镜系统HYBRIO
蓝宝石专用双折射测量仪
球坑测厚仪
Photonic Lattice显微应力双折射分析仪 PA-Micro
Micro Support微区取样器AXIS Pro
ARMS SYSTEM无掩模光刻机/直写光刻机UTA-IA
关注
拨打电话
留言咨询