PHL 残余应力测量仪

PHL 残余应力测量仪

参考价：¥1 - 4999
型号： WPA-200-XL
产地： 日本
品牌： Photonic Lattice
评分：
核心参数
北京欧屹科技有限公司
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产品详情

主要简介：

WPA-200-XL系列是Photonic lattic公司以其光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器，最适合用来测量光学薄膜或透明树脂,量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

    
主要特点：

  • 操作简单，测量速度可以快到3秒。 

  • 采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。

  • 测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。

  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。

  • 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。


主要应用:

  • 光学零件（镜片、薄膜、导光板）

  • 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）

  • 高分子材料（PET PVA COP ACRYL PC COC PMMA）

  • 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）

  

 技术参数:

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】


2

测量波长

520nm、543nm、575nm


3

双折射测量范围

0-3500nm


4

测量最小分辨率

0.001nm


5

测量重复精度

<1nm（西格玛）


6

视野尺寸

218x290mm-360×480mm（标准）


7

选配镜头视野

无选配


8

选配功能

实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式


测量案例：



 


北京欧屹科技有限公司为您提供Photonic LatticePHL 残余应力测量仪WPA-200-XL，Photonic LatticeWPA-200-XL产地为日本，属于进口折光仪(折射仪)，除了PHL 残余应力测量仪的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供PHL应力双折射测试仪、PHL应力双折射仪 PA-200、应力双折射测试仪器WPA-200,WPA-200-L,欧屹科技客服电话，售前、售后均可联系。

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