布鲁克电子背散射衍射仪 EBSD eflash FSQUANTAX EBSD eflash FS_价格-布鲁克电子显微纳米分析仪器部

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简介

QUANTAX EBSD系统结合OPTIMUS TKD探测器，为SEM中纳米材料分析提供了理想解决方案。该系统具有1.5 nm的空间分辨率，在低测试电流下保持高速和高质量数据。作为可在超高分辨SEM下工作的TKD解决方案，并配备全自动ARGUS成像系统。

QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是分析 SEM 中纳米材料的理想化解决方案。原因如下：

提供 1.5 nm 的空间分辨率
在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试
在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案
全自动内置 ARGUS 成像系统

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