资料摘要
资料下载我们知道俄歇电子能谱可以得到样品表面0.4至5纳米深度的元素分布和含量。除此之外，我们也同时比较CMA同轴式透镜分析器与SCA半球分析器之间，在应用到俄歇分析仪器的一些优缺点。在我们可以定论说CMA比SCA更适合作为俄歇电子能谱分析前，我们主要针对物理基础和分析上的概念做进一步讨论。
文献贡献者
固态电池中电解质/金属锂界面的XPS-HAXPES表征
简介：原位XPS（常规X射线光电子能谱）结合HAXPES（硬X射线光电子能谱）技术，具备从表面至体相（梯度变化）无损深度分析的能力，为表/界面研究提供了重要的技术支持。
燃料电池电极界面的XPS-HAXPES表征
简介：关键词：燃料电池、XPS-HAXPES、大面积SXI、Mosaic、深剖、StrataPHI、膜厚
GCIB团簇离子尺寸的调控
简介：Ar-GCIB团簇离子尺寸测量配件作为优化GCIB溅射能力的有效工具，能够实现溅射损伤和溅射速率之间的平衡，为新型纳米材料和复杂混合样品的深度分析提供了强大工具。
全新功能－高德公司的技术视频
简介：为了提供更完善的信息资源平台给市场和客户，高德公司增加了一项新功能。使用客户群可以在技术资料中选取技术视频一项，浏览相关的视频。 现在就开始使用我们的最新功能，分享更多有用的资讯吧！
光电子能谱仪（XPS）的自动双束中和功能
简介：当用XPS仪器分析绝缘样品时，样品表面必须保持电中性，即样品表面无静电荷分布。假设样品表面分布有静电荷，就会导致光电子飞出的动能发生变化。通常表面荷电会导致光电子动能减小，即结合能向高端偏移。 为了很好的解决这个问题，ULVAC-PHI公司的XPS设备增加了双束中和枪的功能，中和枪为绝缘样品荷电区域提供了稳定的荷电补偿。
相关产品
关注
拨打电话
留言咨询
